SI系列可以通过单头测量透明薄膜厚度,只需执行单轴移动即可实现整个宽度的高精度厚度测量。
微型传感头型分光干涉式 激光位移计
SI-F 系列


透过型测量仪使用高强度绿色LED,不仅可以高精度测量宽度、弯曲,并且可以用于数据追溯。
超高速/高精度测微计
LS-9000 系列


通过测量辊轮的缝隙,可有效管理薄膜的厚度。在轧制时进行该测量,可实现实时控制,并有效提高质量。LS-9000系列可测量最小10μm 的缝隙。
超高速/高精度测微计
LS-9000 系列


可通过非接触方式在线测量厚度。CL-3000 系列具有丰富的传感头种类,可不受颜色、材料、表面状态等影响,稳定测量各种目标物。
彩色激光同轴位移计
CL-3000 系列


以往使用摄像机进行产品的条件设定,希望借此防止产生不良品,但使用 LJ-V 系列后可实现精准“检查”,从而可有效防止不良品流出。
2D/3D 线激光测量仪
LJ-X8000 系列


使用2D激光位移传感器测量侧面形状,可实时检测卷绕不平整的问题。而通过检测卷绕不平整的问题,可有效降低褶皱的产生以及放卷时的弯曲,从而达到削减成本的目的。
2D/3D 线激光测量仪
LJ-X8000 系列


使用二维激光位移计,可以通过两侧感测头测量板面与辊的高度差来同时测量厚度和宽度。
2D/3D 线激光测量仪
LJ-X8000 系列



从自由曲面信息提取高度的变化点,可进行缺陷检测。即使制成复杂的曲面形状,也能稳定检查。
2D/3D 线激光测量仪
LJ-X8000 系列

